中子嬗变是核素在中子参与下转变为另一种核素的过程,属于核嬗变的一种。中子不带电,与原子核之间没有库仑排斥,不需要很高的能量就能进入原子核引发反应,因此被视为最有利的人工嬗变手段之一[1][2]。其基本形式是靶核俘获中子生成新核素,新核素若不稳定便继续衰变,最终得到原子序数不同的元素[3]。中子嬗变既用于半导体硅的掺杂,也用于长寿命核废料的处理以及超铀元素和医用同位素的制备[4][5][1]。
定义
中子嬗变指核素在中子作用下转变为另一种核素的过程,它从属于核嬗变,与高能γ量子、带电粒子引发的嬗变并列[2][3]。中子不带电,与带正电的原子核之间不存在库仑排斥,因此不需要很高的动能就能进入原子核,这使中子成为人工嬗变中最常用的入射粒子[1][2]。
判断是否发生嬗变,要看原子核的组成是否改变。核反应前后质量数与原子序数分别守恒,一旦产物的原子序数与靶核不同,就意味着生成了新的元素[3]。化学变化只涉及核外电子的转移,原子核本身并不改变,嬗变因而与化学反应有本质区别[3]。
原理
中子嬗变的第一步是靶核俘获中子。原子核吸收一个中子后质量数增加1,质子数不变,多余的能量常以γ射线放出,这一过程称为中子俘获,记作(n,γ)反应[6][2]。若生成核不稳定,它会继续衰变:中子过多的核素会放出电子与反中微子,即发生β衰变,使原子序数增加1,从而变成另一种元素[3]。
以硅为例,天然硅中30Si的丰度约为3.05%。30Si俘获热中子后生成半衰期约2.62小时的31Si,31Si再经β衰变变成稳定的31P,反应可写作 $^{30}\mathrm{Si}(\mathrm{n},\gamma){}^{31}\mathrm{Si}\xrightarrow{\beta^-}{}^{31}\mathrm{P}$[7][8]。同一元素的各同位素在晶体中天然混合均匀,因此由嬗变产生的掺杂原子在原理上也是均匀分布的[9][4]。
对于重核,中子俘获与裂变是两条相互竞争的反应路径,通常分别用俘获截面和裂变截面来描述,中子数奇偶不同的锕系核素两者相差很大[2]。在硅掺杂中,生成的磷浓度可用 $N_\mathrm{D}=N_{\mathrm{Si30}}\sigma\varphi t$ 估算,其中σ为热中子俘获截面(约0.11靶恩),φ为热中子注量率,t为照射时间;与此同时31P也会俘获中子生成半衰期约14.3天的32P,这是必须考虑的副反应[10][8]。
发展历程
嬗变一词可追溯到炼金术时代。1901年,卢瑟福与索迪发现钍会自发转变为镭,这属于天然核嬗变;1919年,卢瑟福用α粒子轰击氮-14得到氧-17,这是人类首次实现人工核反应[3][1]。1932年,考克饶夫与沃尔顿用加速质子轰击锂-7;1938年,哈恩等人发现重核的核裂变[3]。
中子嬗变在材料领域的应用出现较早。1951年已有研究者提出用核反应为硅掺杂;20世纪60年代初,Tanenbaum等人在研究堆中用中子照射硅,得到了电阻率均匀的n型硅[9]。1974年,丹麦里索研究堆首次实现实用规模的中子嬗变掺杂辐照,1975年前后该技术随半导体工业发展走向实用化[7]。此后许多研究堆陆续建立辐照装置,用于批量生产中子嬗变掺杂硅[7][11]。
在核废料处理方面,把长寿命核素转变为短寿命或稳定核素的思路自20世纪80年代末起受到重视,日本等国陆续开展分离-嬗变研究[12][13]。中国的研究人员自1995年起对加速器驱动洁净核能系统进行概念研究[14][15]。有关综述指出,中子嬗变处理长寿命核废物的研究工作已有二十多年历史,20世纪90年代以来该领域十分活跃[13]。
应用
半导体掺杂是当前最成熟的应用。用反应堆热中子照射区熔或直拉硅单晶,把其中的30Si转变为31P,即可得到n型硅,这种方法称为中子嬗变掺杂(NTD)[4][7]。早期实验显示其掺杂偏差可控制在±5%以内;对6英寸硅单晶,常规掺杂的不均匀度约为±20%,而NTD法约为±5%[9][7]。该产品用于大功率晶闸管、整流器、高压直流输电、粒子探测器与硅靶摄像管等器件[4][16]。类似的反应还可用于锗、砷化镓、碳化硅和氮化镓等半导体材料的掺杂[16][17]。
在核废料处理中,中子嬗变是分离-嬗变技术的核心环节:把乏燃料中的次量锕系核素和长寿命裂变产物分离出来,放入强中子场中转变为短寿命或稳定核素[5]。可提供中子场的设施包括热中子堆、快中子堆和加速器驱动次临界系统(ADS)[5]。ADS用强流质子加速器轰击散裂靶产生中子,驱动装载次量锕系燃料的次临界堆芯,被认为适合集中嬗变这类核素[18][12]。有研究给出,ADS的嬗变能力比快中子堆高一个数量级[5]。
在反应堆中,238U俘获中子生成239U,再经两次β衰变依次变成239Np和239Pu,这是钚的主要生成途径[1]。嬗变反应也是制备超铀元素和多种医用放射性同位素的手段之一[1]。中子活化分析则利用样品俘获中子后放出的特征辐射来测定其成分[6]。
局限
中子辐照会在材料中留下晶格损伤:快中子的碰撞以及β、γ辐射引起的反冲都会造成位移缺陷,需要通过退火恢复晶格与电阻率,硅材料常用的退火温度在500至900℃之间[4][19][8]。此外,生成的31P会继续俘获中子形成带有残余放射性的32P,辐照后的材料需要放置一段时间待其衰变[8][4]。
对核废料而言,嬗变只能减少而不能消灭长寿命核素,地质处置库仍然不可缺少[5]。热中子场中长寿命裂变产物的中子俘获截面很小,嬗变所需时间很长、效率偏低,通常需要改用快中子照射以提高裂变份额[5]。
专用嬗变装置尚未工程化。ADS需要高功率质子加速器、铅铋散裂靶和次临界堆等一整套技术,目前仍处在研究与实验阶段[18][14]。中子嬗变还高度依赖反应堆或加速器提供的中子,辐照只能安排在专门的中子场中进行,注量与照射时间必须精确控制[8][7]。
参见
参考资料
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- TR+98-14_OCR(PDF) . skb.com [引用日期2026-09-27]
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- 关于加速器驱动洁净核能系统原理验证装置的几点考虑\* . iaea.org [引用日期2026-09-27]
- 未来核能利用的方案探讨——加速器驱动放射性洁净核能系统\* . iaea.org [引用日期2026-09-27]
- 单晶硅中子辐照嬗变掺杂 . xjjszh.org.cn [引用日期2026-09-27]
- INIS Repository Search . iaea.org [引用日期2026-09-27]
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- osti.gov 上的网页 . osti.gov [引用日期2026-09-27]
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最近更新:2026-09-27T15:57:15Z
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